🔹 European XFEL poszukuje wysokoprecyzyjnych podłoży krzemowych dla optyki refleksyjnej X-ray o następujących parametrach:
◾ długości 400–600 mm
◾ szlifowanych wzdłużnie do profilu eliptycznego ze średnim promieniem
◾ krzywizny ~400 m
◾ tolerancji powierzchni 500 nrad RMS
Wymagania kluczowe: dostawca musi mieć możliwość wykonania wysokoprecyzyjnej metrologii i zapewnienia pełnej weryfikacji podczas Factory Acceptance Testing (FAT), szczególnie w zakresie specyfikacji krzywizny.
Jeżeli Twoja firma może spełnić te wymagania lub znasz odpowiedniego dostawcę, prosimy o kontakt do 4 grudnia, godz. 16:00.
Szczegóły kontaktowe:
Oficjalna strona ILO EuXFEL: Industrial Liaison
Kontakt dla firm z Polski: Dagmara.Milewska@ncbj.gov.pl
Zachęcamy do śledzenia aktualnych przetargów EuXFEL: Calls for Tender
#XFEL #XrayOptics #HighPrecision #ResearchCollaboration
🔹 European XFEL poszukuje wysokoprecyzyjnych podłoży krzemowych dla optyki refleksyjnej X-ray
Data zakończenia
Obiekt badawczy
EuXFEL
Strona sfinansowana ze środków budżetu państwa w ramach programu Ministra Edukacji i Nauki pod nazwą „Nauka dla Społeczeństwa” nr umowy: NdS/543816/2022/2022 kwota dofinansowania: 62 000,00 PLN netto, całkowita wartość projektu: 1 048 200,00 PLN”.
